<em id="do5jr"><ruby id="do5jr"><input id="do5jr"></input></ruby></em>
<dd id="do5jr"></dd>
<tbody id="do5jr"></tbody>

    <dd id="do5jr"></dd>
    <dd id="do5jr"><pre id="do5jr"></pre></dd>
    <rp id="do5jr"></rp>
  1. <th id="do5jr"><pre id="do5jr"></pre></th>
    <span id="do5jr"><pre id="do5jr"><sup id="do5jr"></sup></pre></span>
    <button id="do5jr"><object id="do5jr"></object></button>
    咨詢電話

    18312898049

    當前位置:首頁  >  技術文章  >  想知道x射線測厚儀的特點有哪些不妨看看本篇吧

    想知道x射線測厚儀的特點有哪些不妨看看本篇吧

    發布時間:2022-08-02      點擊次數:63
      x射線測厚儀主要用于測量設備的生產中*的極薄膜、多層膜乃至半導體晶圓的硅膠基板厚度,膜厚儀可滿足用戶各種各樣的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。
     
      X射線膜厚測試機采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。
     
      在膜厚測量電路中,正弦振蕩器IC1、IC2產生頻率為1-100kHz的正弦波,加在變壓器B1初級上,次級輸出的正弦信號加到橋式電路的輸入端,由該橋路在非平衡狀態下獲取金屬材料表面的渦流變化;渦流變化量由檢測放大器IC3進行適當放大,再經交流放大器IC4和IC5放大數十倍后,經轉換電路將渦流變化量轉換為膜厚,由指示儀表顯示。
     
      X射線膜厚測試機的產品特點有哪些?下面讓我們一起來了解一下吧:
     
      1、該膜厚儀嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
     
      2、測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差
     
      3、支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
     
      4、實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據
     
      5、配置標準量塊用于系統標定,保證測試的精度和數據一致性
     
      6、支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能
     
      7、微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
     
      以上就是本篇為您分享的全部內容,希望以上的內容能夠對大家有所幫助,感謝您的觀看和支持,后期會整理更多資訊給大家,敬請關注我們的網站更新。
    ©2022 中山市鑫天溯技術有限公司版權所有 All Rights Reserved.     備案號:粵ICP備2022038510號

    技術支持:儀表網     管理登陸     sitemap.xml

    a片在线观看免费视频网站
    <em id="do5jr"><ruby id="do5jr"><input id="do5jr"></input></ruby></em>
    <dd id="do5jr"></dd>
    <tbody id="do5jr"></tbody>

      <dd id="do5jr"></dd>
      <dd id="do5jr"><pre id="do5jr"></pre></dd>
      <rp id="do5jr"></rp>
    1. <th id="do5jr"><pre id="do5jr"></pre></th>
      <span id="do5jr"><pre id="do5jr"><sup id="do5jr"></sup></pre></span>
      <button id="do5jr"><object id="do5jr"></object></button>